國科控股中科檢測提供

產品成分分析，材料性能分析，配方分析

周主任：

     我公司利用以下檢測手段對產品進行成分分析，材料分析,*，周期短，服務優(yōu)質，咨詢！：

    DSC 差熱分析可用于無機、硅酸鹽、陶瓷、礦物金屬、高分子聚合物等領域。英格爾研發(fā)中心憑借豐富的分析經驗，運用熱分析技術可對化工、冶金、地質、電工、陶瓷、輕紡、食品、醫(yī)藥等產品提供熱差分析服務。

      TG熱分析是研究熱力學參數或物理參數與溫度變化關系分析的方法，可分析材料晶型轉變、熔融、吸附、脫水、分解等物理性質，通過熱分析技術的綜合應用可以判斷 材料種類、材料組分含量、篩選目標材料、對材料加工調價、使用條件做出準確的預判，是材料分析過程中非常重要的組成部分。

        SEM  掃描電鏡能譜連用儀（SEM/EDX）它結合了掃描電鏡與能譜各自的有點，掃描電鏡可以將樣品放大1W-5W倍，而能譜，可測定樣品某區(qū)域中表面元素。二者結合在分析測試中，可對少量未知物元素進行判定，由此可半定性半定量的判定該微面區(qū)域中的元素構成；也可用于金屬材質失效分析，可判斷金屬應力形變等。

 我公司其他檢測項目：

 氣象色譜質譜連用GC-MS    離子色譜（IC）   

液相色譜-質譜聯用儀（LCMS）    凝膠滲透色譜儀（GPC） 

裂解氣象色譜分析儀（PGC）    氣象色譜質譜連用GCMS 

電感耦合等離子體質譜儀ICP-MS    液相色譜-質譜聯用儀（LCMS）  

基質輔助激光解吸電離飛行時間質譜儀

我公司大型分析測試儀器有：核磁共振譜儀、質譜儀、氣相色譜-質譜聯用儀、液相色譜-質譜聯用儀、傅里葉變換紅外光譜-紅外顯微鏡聯用儀、紫外和可見吸收光譜儀、掃描電鏡/X- 射線能譜聯用儀、高分辨透射電子顯微鏡、場發(fā)射掃描電子顯微鏡、電子探針、X- 射線單晶衍射儀、X- 射線粉末衍射儀、高效液相色譜儀、氣相色譜儀、等離子體原子發(fā)射光譜儀、離子色譜儀等。

SEM檢測/EDS檢測/TG檢測/紅外檢測

SEM檢測/EDS檢測/TG檢測/紅外檢測